企业简介
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旺矽科技股份有限公司的商标信息
| 序号 | 注册号 | 商标 | 商标名 | 申请时间 | 商品服务列表 | 内容 |
| 1 | 6591605 |  |
MPI | 2008-03-12 | 检验半导体用探针板；检验液晶配电板用探针板；晶圆探测板；探针板检验装置；半导体电气特性检验装置；液晶配电板检验装置；集成电路测定用测量装置；液晶配电板测定用测量装置 | 查看详情 |
| 2 | 16408830 |  |
旺硅 | 2015-02-17 | 集成电路测定用测量装置；晶圆探测板；探测器；半导体器件；探针板检验装置；半导体电气特性检验装置；检验半导体用探针板；检验液晶配电板用探针板；液晶配电板检验装置；液晶配电板测定测量装置；液晶配电板测定测量装置；液晶配电板检验装置；探针板检验装置；半导体电气特性检验装置；检验液晶配电板用探针板；检验半导体用探针板 | 查看详情 |
| 3 | 16408831 |  |
旺矽 | 2015-02-17 | 检验半导体用探针板；检验液晶配电板用探针板；探针板检验装置；半导体电气特性检验装置；液晶配电板检验装置；液晶配电板测定测量装置；探测器；晶圆探测板；集成电路测定用测量装置；半导体器件；液晶配电板检验装置；液晶配电板测定测量装置；探针板检验装置；检验液晶配电板用探针板；检验半导体用探针板；半导体电气特性检验装置 | 查看详情 |
旺矽科技股份有限公司的专利信息
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | TWI293014 | 可快速更换电子零件之探针卡 | 2008.01.21 | 一种可快速更换电子零件之探针卡，包括有一电路板、复数个探针以及复数个容置座，电路板布设有电子电路并具 |
| 2 | TWI285741 | 测试用探针 | 2007.08.21 | 一种测试用探针，包含有一本体以及一杆件，本体具有至少一支撑部，而杆件一端设于本体，另一端朝支撑部之方 |
| 3 | TW200627571 | 微接触元件及其制造方法 | 2006.08.01 | 一种微接触元件及其制造方法，其步骤包含有：在一表面不具导电性之基板上成形一导电薄膜；在该导电薄膜上成 |
| 4 | TWM382856 | 分选盘 | 2010.06.21 | 本创作有关于一种用于分类体积较小之电子零件的分选盘，该分选盘之一侧包含一内凹弧面，且自该内凹弧面开设 |
| 5 | TWM439887 | 可调距离及角度之差动特性检测用点触装置 | 2012.10.21 | 一种可调距离及角度之差动特性检测用点触装置，包含有一具有一导槽之基座、一第一点触单元及一第二点触单元 |
| 6 | TWM510463 | 探针卡 | 2015.10.11 | |
| 7 | CN105988025A | 具有照度调整机制的多单元测试探针卡及其照度调整方法 | 2016.10.05 | 本发明涉及一种多单元测试探针卡及其照度调整方法，所述探针卡用于同时测试多个光电元件，且包含一电路板、 |
| 8 | TW200829923 | 高频悬臂式探针 | 2008.07.16 | 一种高频悬臂式探针，系具有一针座、一传输线、至少一讯号针及一接地针，各讯号针及接地针具有一固定部、一 |
| 9 | TWI282429 | 积体电路测试卡(二) | 2007.06.11 | 一种积体电路测试卡(二)，包含有：一电路板，具有若干之接触焊点；一探针组件，具有一电讯转接板及若干之 |
| 10 | TWI255521 | 探针卡 | 2006.05.21 | 一种探针卡，包含有一电路板、一间隔件、至少一跳线板，以及一针组；电路板具有一配线禁止区，以及一定位孔 |
| 11 | TW200829922 | 高频探针 | 2008.07.16 | 一种高频探针，具有一金属针及至少一金属线，金属线系布设于金属针上并与之相互电性绝缘，至少一金属线为电 |
| 12 | CN100446355C | 微接触元件 | 2008.12.24 | 本发明一种微接触元件，其包括：一导电材料；一包覆于该导电材料外侧的绝缘介电材料；一包覆于该介电材料外 |
| 13 | TW200813436 | 高频悬臂式探针卡 | 2008.03.16 | 一种高频悬臂式探针卡系具有一电路板、一接地座、复数个讯号探针及至少一接地探针，接地座电性连接电位零点 |
| 14 | TWI286209 | 积体电路测试卡(三) | 2007.09.01 | 一种积体电路测试卡(三)，包含有：一电路板，具有若干之接触焊点及若干贯通之弹簧容置孔；一探针组件，具 |
| 15 | CN105738663A | 具有定位片的垂直式探针装置 | 2016.07.06 | 本发明涉及一种具有定位片的垂直式探针装置，包含分别有多个上、下安装孔的上、下导板、多个探针、一有多个 |
| 16 | CN105652049A | 探针卡 | 2016.06.08 | 本发明提供了一种探针卡，包含印刷电路板、电源/信号导体片、接地导体片、绝缘体、电子电路、电源/信号探 |
| 17 | CN105842605A | 探针头及上导板 | 2016.08.10 | 本发明涉及一种探针头及上导板，适用于一垂直式探针卡。探针头包括一上导板、一下导板及多个探针。上导板具 |
| 18 | CN105890246A | 用于冷却工作流体的适应性温度控制系统 | 2016.08.24 | 本发明涉及一种用于冷却工作流体的适应性温度控制系统，用于将一工作流体冷却至一由用户设定的目标温度，该 |
| 19 | CN1955743A | 探针卡的探针装置 | 2007.05.02 | 一种探针卡的探针装置，包含有一基座与一转换件；基座包括有一本体以及一主电路层，本体设有多数第一导体， |
| 20 | CN101644724A | 探针测试装置 | 2010.02.10 | 本发明一种探针测试装置，主要于一电路板与一空间转换板之间设置一垫高板，再设置多个探针于空间转换板，使 |
| 21 | CN101587165A | 晶圆验收测试方法、接触垫、及探针卡 | 2009.11.25 | 本发明公开了一种晶圆验收测试方法、接触垫及探针卡。该晶圆验收测试方法是先提供一晶圆，于晶圆上形成多个 |
| 22 | CN101635267A | 取放晶粒的装置及方法 | 2010.01.27 | 一种取放晶粒的装置，包括一摆臂和一位移控制装置，其特征在于：所述摆臂前端设有一吸头；所述位移控制装置 |
| 23 | CN101329366A | 一种探针短路防止结构 | 2008.12.24 | 本发明提供一种探针短路防止结构，该防止结构为一绝缘的隔离结构，各隔离结构可嵌合于一探针针体或设于该探 |
| 24 | CN105738662A | 悬臂式高频探针卡 | 2016.07.06 | 一种悬臂式高频探针卡，用以设置于一待测电子对象上方，且包含有一载板、一针座、二探针以及一电容。其中， |
| 25 | CN101221194A | 高频探针 | 2008.07.16 | 一种高频探针，具有一金属针及至少一金属线，金属线是布设于金属针上并与之相互电性绝缘，至少一金属线为电 |
| 26 | CN106018891A | 使用同轴针的悬臂式探针卡 | 2016.10.12 | 本发明涉及一种使用同轴针的悬臂式探针卡，其包括：电路板，具有一下表面，以及位于下表面的一信号接点及一 |
| 27 | CN103426786B | 晶圆载环总成的角度定位方法以及实施该方法的机构 | 2016.11.23 | 本发明涉及一种晶圆载环总成的角度定位方法以及实施该方法的机构，该方法包含有下列步骤：a)在该晶圆载环 |
| 28 | CN100465650C | 探针卡 | 2009.03.04 | 一种探针卡，包含有一电路板、一间隔件、至少一跳线板，以及一针组；电路板具有一配线禁止区，以及一定位孔 |
| 29 | TW200500617 | 测试液晶显示装置之驱动电路之测试卡 | 2005.01.01 | 本发明之测试卡可同时量测二个以上之液晶显示装置之驱动电路的电气特性。该测试卡包含一电路板、一设置于该 |
| 30 | TW200528722 | 多功能探针卡 | 2005.09.01 | 一种多功能探针卡包含一印刷电路板、复数个探针、一计数晶圆件数而获取一「件数序列参数」之计数器、一用来 |
| 31 | CN106249007A | 具备反馈测试功能的探针模块 | 2016.12.21 | 本发明公开了一种具备反馈测试功能的探针模块，设于一印刷电路板以及一待测电子装置之间；其包括一转接件、 |
| 32 | CN103721954B | 元件分料方法及使用该方法的分料装置 | 2016.12.21 | 本发明涉及一种元件分料方法及使用该方法的分料装置，该元件分料方法为提供多个设置于至少一分选盘上且呈弧 |
| 33 | CN106249009A | 具有反馈测试功能的探针模块 | 2016.12.21 | 一种具有反馈测试功能的探针模块，设于一印刷电路板及一待测电子装置间，包括一转接件、二探针、二电感性元 |
| 34 | CN106249008A | 具有反馈测试功能的探针模块 | 2016.12.21 | 一种具有反馈测试功能的探针模块，设于一印刷电路板及一待测电子装置间，包括一第一、第二、第三与第四走线 |
| 35 | CN106199090A | 使用同轴针的探针卡 | 2016.12.07 | 本发明涉及一种使用同轴针的探针卡，其包括：具有一顶面、一底面的电路板，以及一贯穿所述顶面与所述底面的 |
| 36 | CN106200712A | 温度控制设备及其隔离罩 | 2016.12.07 | 本发明揭露一种温度控制设备及其隔离罩。温度控制设备包含流体输出装置连接头、隔离罩、干燥腔室与干燥气体 |
| 37 | CN104215801B | 探针卡与其制作方法 | 2017.04.12 | 本发明提供一种探针卡与其制作方法，该探针卡包含配线基板、转接部、至少一电子元件与至少一探针。配线基板 |
| 38 | CN103901239B | 高频探针卡 | 2017.04.12 | 一种高频探针卡用以传输一待测电子对象输出的高频测试信号，且该待测电子对象包含有用以输出高频测试信号的 |
| 39 | CN104142413B | 探针模块 | 2017.04.12 | 一种探针模块包括一基材、一设置在该基材上的固持件以及沿一第一方向排列的至少一探针列。每一探针列在一第 |
| 40 | CN106546781A | 具有旁道线路的探针卡 | 2017.03.29 | 本发明涉及一种具有旁道线路的探针卡，其包含一电路板、设置于电路板底面下方的一讯号探针及一接地探针，以 |
| 41 | CN106546780A | 探针结构及其制造方法 | 2017.03.29 | 本发明提出一种探针结构及其制造方法，探针结构包含一探针本体，探针本体包含一针尖部，针尖部包含一端面、 |
| 42 | CN106542334A | 温度控制系统的工作流体输送管 | 2017.03.29 | 本发明涉及一种温度控制系统的工作流体输送管，包含有一内管单元、一设于该内管单元外围的外管单元、一位于 |
| 43 | CN106483345A | 探针头 | 2017.03.08 | 本发明提供了一种探针头，其中，探针头包含第一导位板、第二导位板、间隔件、定位组件及多个探针。第二导位 |
| 44 | CN103513854B | 半导体检测系统的用户界面的显示方法 | 2017.03.01 | 半导体检测系统的用户界面的显示方法包括选择一检测功能；将该检测功能所需的多个临界条件，根据其属性，分 |
| 45 | CN106443079A | 整合式高速测试模块 | 2017.02.22 | 一种整合式高速测试模块，以一电路基板接收测试机台所提供的第一测试讯号，经传输至一探针组的第一探针以点 |
| 46 | CN106338626A | 探针模块 | 2017.01.18 | 本发明提供了一种探针模块，包含二基板、至少二导电线与至少二探针。各该基板具有相背对的二平面，该二平面 |
| 47 | CN104076172B | 用于探针卡的空间转换器的制造方法 | 2017.01.18 | 本发明涉及一种用于探针卡的空间转换器的制造方法，包含有下列步骤：a)在一第一基板上固设多个第二基板， |
| 48 | CN106324301A | 悬臂式高频探针卡 | 2017.01.11 | 一种悬臂式高频探针卡，用以设置于一待测电子对象上方，且包含有一载板、一针座、二探针以及一电容性元件。 |
| 49 | CN106324300A | 检测装置及其探针模块 | 2017.01.11 | 一种用以在一检测装置以及一待测物之间传递电信号的检测装置，包括有一载板以及一探针模块。该载板具有一穿 |
| 50 | CN106053896A | 探针卡 | 2016.10.26 | 一种探针卡，用于将一检测机的电源信号传输给二个待测电子物件，藉以通过该电源信号供应电源给该二待测电子 |
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